Phân tích cấu trúc vi mô của vật liệu

Các dịch vụ chuẩn bị mẫu FIB và phân tích TEM cấp độ wafer quy trình nâng cao- cung cấp các giải pháp chuẩn bị mẫu và phân tích cấu trúc chính xác cho các chip xử lý tiên tiến bằng cách thực hiện

GRGTEST Metrology cung cấp dịch vụ phân tích chùm tia ion tập trung-chùm tia ion kép (DB-FIB) chuyên nghiệp. Các dịch vụ thử nghiệm phổ biến bao gồm các phần mẫu TEM cho các quy trình nâng cao (14 nm

Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM) đã trở thành một công cụ phân tích không thể thiếu trong lĩnh vực vật liệu và chất bán dẫn. Nó là một thiết bị quang học điện tử sử dụng chùm tia điện tử năng

Thiết bị cắt wafer và dịch vụ chụp ảnh SEM là những hỗ trợ công nghệ quan trọng cho khoa học vật liệu, công nghiệp điện tử và nghiên cứu y sinh, đồng thời đặc biệt phù hợp để quan sát cấu trúc bên

Kính hiển vi lực nguyên tử Bruker Dimension ICON6 hỗ trợ 12 chế độ, bao gồm tiếp xúc, khai thác và khai thác lực cực đại, để đáp ứng nhu cầu thử nghiệm của các mẫu khác nhau và cung cấp các phương

EDS là viết tắt của Máy quang phổ tán sắc năng lượng, là một phương pháp phân tích quang phổ tán sắc năng lượng tia X. Nguyên lý của nó dựa trên thực tế là các phần tử khác nhau phát ra tia X-đặc

Compared to traditional gallium-ion focused ion beam (Ga-FIB), PFIB utilizes a more powerful xenon (Xe) ion beam, achieving a maximum current of 2.5 μA at 30 keV energy, which increases its etching